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功率半导体导热超铜及大口径SiC基板亮相

(2013-4-7 9:21:47)  1410人次浏览
 
     功率半导体篇:导热率超过铜的材料及大口径SiC基板等亮相
   “nano tech 2013”展会还大量展示了作为产品节能王牌而受到关注的功率半导体元件(以下称功率元件)用新部材。
  比如具备高导热率的散热材料、制造采用SiC和GaN的功率元件不可或缺的基板材料(图)。
  图:展示功率元件用部材(文章插图看大图→浏览下载
  TASC展示了导热率高达450~850W/mK的散热基板(a)。电装等展示了口径达到6英寸的SiC基板(b)。
  大阪大学等介绍了聚集以“钠溶剂法”制作的小型GaN结晶形成基板的制造技术(c)。
  散热材料方面,技术研究联盟单层CNT融合新材料研究开发机构(TASC)展出了导热率为450~850W/mK的新材料。
  据介绍,该材料的导热率最大约为铝的4倍、铜的2倍。
  在会场上,TASC展示了采用该材料的散热板试制品。例如,用于燃料电池系统用IGBT和电动摩托车用DC-DC转换器的散热板。
  此次展示的散热材料合成了碳纳米管(CNT)和铝。
  TASC没有公开详细的制作方法,只表示在将铝加热到熔点以下的状态下,使CNT进行了固相扩散。据称现阶段可制作直径350mm的复合材料。
  TASC利用“超速成长法”和“eDIPS法”形成了CNT。
  利用超速成长法可获得具有高配向性的单层长CNT,适合大量生产。而eDIPS法适合制作结晶性、品质及纯度高的CNT。

  高品质6英寸SiC基板
  SiC基板方面,电装、丰田中央研究所和昭和电工展出了技术研究联盟——
  新一代功率电子研究开发机构(FUPET)正在开发的6英寸(150mm)口径试制品。该基板的最大特点是位错密度仅为数千个/cm2。
  利用以“RAF生长法”制作的母材、即籽晶为削减位错密度做出了巨大贡献。三家公司计划2014年度底之前投产6英寸基板。
  GaN基板方面展出了号称“无位错”的试制品。那就是大阪大学与Innovation Center和理光利用“钠溶剂法”制作的2英寸(50mm)口径GaN基板。
  钠溶剂法在镓和钠的混合溶液中喷入氮气使氮溶解来制作GaN结晶。该方法是液相法的一种,因此可大幅抑制位错等结晶缺陷。但难以制作大口径基板。
  因此,此次开发出了大量结合用钠溶剂法制作的小型GaN结晶的方法。
  比此前提案的任何一种方法都更容易制作2英寸的无位错GaN基板。(未完待续,《日经电子》采访组) 
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  2013年04月产品推广:可控硅-晶闸管→浏览下载 MOS-场效应管→浏览下载 肖特基整流二极管→浏览下载
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来源-中国可控硅信息中心   打印 打印该页
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