| 首批基因芯片技术落户山西 |
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| (2012-11-18 10:45:17) 1222人次浏览 |
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首批基因芯片出生缺陷基因诊断技术落户山西
山西新闻网11月15日讯：今天，记者从山西省人口计生委科学研究所了解到，经过两年多的筹备，首批基因芯片出生缺陷基因诊断技术落户山西，该技术可在孕期诊断出400多种遗传学疾病。
“该技术的引进可大幅降低我省出生缺陷发生率，减少缺陷儿的出生，减轻家庭和社会负担，对提高全省人口出生质量起到积极作用”。省人口计生委科学研究所所长郭兴萍介绍，这项技术对出生缺陷的检出率可达28%(传统的检查方法只有5-10%的检出率)。
据了解，此技术由美国加州大学基因芯片临床诊断中心主任，省计生所科研顾问、美籍华人、知名科学家李新民博士带回家乡。李新民博士入选了我省首批“百人计划”。早在两年前，李新民博士曾两次来计生科研所进行讲学。
此外，李新民博士还将第三代测序技术在我省推广。按照国际生物科学界的分类，第一代测序技术完成人的全基因组测序花费了10年的时间(2000年前后的人类基因组计划)，第二代测序技术只需要10天时间，而李博士带来的最新科研理念——第三代测序技术只需要1天时间，甚至更短。(来源：山西新闻网)
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